Instituciones
Área de conocimientoPeriodo de publicación recogido
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N. Labat, François Marc, H. Frémont, Marise Bafleur
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 1-5
Prediction of LIN communication robustness against EFT events using dedicated failure models
F. Escudié, F. Caignet, N. Nolhier, Marise Bafleur
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 685-691
New triggering-speed-characterization method for diode-triggered SCR using TLP
Mouna Mahane, D. Trémouilles, Marise Bafleur, Benjamin Thon, Marianne Diatta, Lionel Jaouen
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 692-697
M. Diatta, E. Bouyssou, D. Trémouilles, P. Martinez, F. Roqueta, O. Ory, Marise Bafleur
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1103-1106
ESD failure signature in capacitive RF MEMS switches.
J. Ruan, G.J. Papaioannou, N. Nolhier, N. Mauran, Marise Bafleur, F. Coccetti, R. Plana
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1237-1240
Y. Gao, N. Guitard, C. Salamero, Marise Bafleur, L. Bary, L. Escotte, P. Gueulle, L. Lescouzeres
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1456-1461
Long-term reliability of silicon bipolar transistors subjected to low constraints.
A. Crosson, L. Escotte, Marise Bafleur, D. Talbourdet, L. Crétinon, P. Perdu, G. Perez
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1590-1594
Electrostatic discharge failure analysis of capacitive RF MEMS switches.
J. Ruan, N. Nolhier, Marise Bafleur, L. Bary, F. Coccetti, T. Lisec, R. Plana
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1818-1822
La technologie C MOS: aspects historiques et nouvelles perspectives de conception
J. Buxo, Marise Bafleur, P. Benibre
Revista de informática y automática, ISSN 0210-8712, Año 18, Nº. 66, 1985 (Ejemplar dedicado a: VI Congreso de Informática y Automática), págs. 39-41
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