Identification of the physical signatures of CDM induced latent defects into a DC¿DC converter using low frequency noise measurements.

• Autores: Y. Gao, N. Guitard, C. Salamero, Marise Bafleur, L. Bary, L. Escotte, P. Gueulle, L. Lescouzeres
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1456-1461
• Idioma: inglés
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