Proceedings of the 28th European Symposium on the reliability of electron devices, failure physics and analysis

• Autores: N. Labat, François Marc, H. Frémont, Marise Bafleur
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 1-5
• Idioma: inglés
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