Periodo de publicación recogido
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W.A. Sasangka, Y. Gao, C. L. Gan, Carl V. Thompson
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 393-396
W.A. Sasangka, Govindo J. Syaranamual, Y. Gao, R. I Made, C. L. Gan, Carl V. Thompson
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 287-291
Characterisation of defects generated during constant current InGaN-on-silicon LED operation
R.I Made, Y. Gao, Govindo J. Syaranamual, W.A. Sasangka, L. Zhang, Xuan Sang Nguyen, Y.Y. Tay, J.S. Herrin, Carl V. Thompson, C. L. Gan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 561-565
Consumable double electrode with a single arc GMAW.
H.L. Wei, H. Li, L.J. Yang, Y. Gao
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 68, Nº. 5-8, 2013, págs. 1539-1550
Advances in measurement technology and intelligent instruments for manufacturing engineering.
Y. Gao, W. Gao, Y. Takaya, M. Krystek
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 46, Nº. 9-12, 2010, págs. 843-844
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 48, Nº. 9-12, 2010, págs. 955-962
A multi-domain boundary element formulation for acoustic frequency sensitivity analysis.
H. Cheng, J. Chen, Y.-B. Zhang, C.-X. Bi, Y. Gao
Engineering analysis with boundary elements, ISSN 0955-7997, Vol. 33, Nº. 6, 2009, págs. 815-821
An effective warpage optimization method in injection molding based on the Kriging model.
Y. Gao, X. Wang
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 37, Nº. 9-10, 2008, págs. 953-960
Y. Gao, N. Guitard, C. Salamero, Marise Bafleur, L. Bary, L. Escotte, P. Gueulle, L. Lescouzeres
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1456-1461
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