Periodo de publicación recogido
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D. Hachem, D. Trémouilles, F. Morancho, G. Toulon
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 406-410
F. Boige, F. Richardeau, D. Trémouilles, S. Lefebvre, G. Guibaud
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 500-506
New triggering-speed-characterization method for diode-triggered SCR using TLP
Mouna Mahane, D. Trémouilles, Marise Bafleur, Benjamin Thon, Marianne Diatta, Lionel Jaouen
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 692-697
A plug-and-play wideband RF circuit ESD protection methodology: T-diodes.
D. Linten, S. Thijs, J. Borremans, M. Dehan, D. Trémouilles, M. Scholz, M.I. Natarajan, P. Wambacq, S. Decoutere, G. Groeseneken
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1440-1446
M. Diatta, E. Bouyssou, D. Trémouilles, P. Martinez, F. Roqueta, O. Ory, Marise Bafleur
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1103-1106
Accelerated lifetime test of RF-MEMS switches under ESD stress.
J. Ruan, N. Nolhier, G.J. Papaioannou, D. Trémouilles, V. Puyal, C. Villeneuve, T. Idda, F. Coccetti, R. Plana
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1256-1259
Transient voltage overshoot in TLP testing ¿ Real or artifact?.
D. Trémouilles, S. Thijs, Ph. Roussel, M.I. Natarajan, V. Vassilev, G. Groeseneken
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 7, 2007, págs. 1016-1024
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