Failure mechanisms of discrete protection device subjected to repetitive electrostatic discharges (ESD).

• Autores: M. Diatta, E. Bouyssou, D. Trémouilles, P. Martinez, F. Roqueta, O. Ory, Marise Bafleur
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1103-1106
• Idioma: inglés
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