ESD failure signature in capacitive RF MEMS switches.

• Autores: J. Ruan, G.J. Papaioannou, N. Nolhier, N. Mauran, Marise Bafleur, F. Coccetti, R. Plana
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1237-1240
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)