Long-term reliability of silicon bipolar transistors subjected to low constraints.

• Autores: A. Crosson, L. Escotte, Marise Bafleur, D. Talbourdet, L. Crétinon, P. Perdu, G. Perez
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1590-1594
• Idioma: inglés
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