I. De Wolf

• Artículos de revistas (9)

• Artículos de revistas

  • Non-invasive soft breakdown localisation in low k dielectrics using photon emission microscopy and thermal laser stimulation

    N. Herfurth, K.-C. Wu, A. Beyreuther, T. Nakamura, I. De Wolf, M. Simon-Najasek, F. Altmann, K. Croes, C. Boit

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 92, 2019, págs. 73-78

    • Resumen
    

  • Photon emission as a characterization tool for bipolar parasitics in FinFET technology

    A. Beyreuther, N. Herfurth, E. Amini, T. Nakamura, I. De Wolf, C. Boit

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 273-276

    • Resumen
    

  • Detection of failure mechanisms in 24–40 nm FinFETs with (spectral) photon emission techniques using InGaAs camera

    I. Vogt, T. Nakamura, I. De Wolf, C. Boit

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 334-338

    • Resumen
    

  • LER and spacing variability on BEOL TDDB using E-field mapping: Impact of field acceleration

    D. Kocaay, Ph.J. Roussel, K. Croes, Ivan Ciofi, Y. Saad, I. De Wolf

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 131-135

    • Resumen
    

  • Lock-in thermal laser stimulation for non-destructive failure localization in 3-D devices

    K.J.P. Jacobs, T. Wang, M. Stucchi, M. Gonzalez, K. Croes, I. De Wolf, E. Beyne

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 188-193

    • Resumen
    

  • Study of GHz-SAM sensitivity to delamination in BEOL layers

    A. Khaled, Luka Ključar, S. Brand, M. Kögel, R. Aertgeerts, R. Nicasy, I. De Wolf

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 238-242

    • Resumen
    

  • B-Spline X-Ray Diffraction Imaging — Rapid non-destructive measurement of die warpage in ball grid array packages

    A. Cowley, A. Ivankovic, C.S. Wong, N.S. Bennett, A.N. Danilewsky, M. Gonzalez, V. Cherman, B. Vandevelde, I. De Wolf, P.J. McNally

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 59, 2016, págs. 108-116

    • Resumen
    • Texto completo
    

  • Charging and discharging phenomena in electrostatically-driven single-crystal-silicon MEM resonators: DC bias dependence and influence on the series resonance frequency.

    S. Kalicinski, M. Wevers, I. De Wolf

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1221-1226

    

  • Detection of failure sites by focused ion beam and nano-probing in the interconnect of three-dimensional stacked circuit structures.

    Y. Yang, H. Bender, K. Arstila, B. Swinnen, B. Verlinden, I. De Wolf

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1517-1521

    

Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.