Periodo de publicación recogido
|
|
|
Lock-in thermal laser stimulation for non-destructive failure localization in 3-D devices
K.J.P. Jacobs, T. Wang, M. Stucchi, M. Gonzalez, K. Croes, I. De Wolf, E. Beyne
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 188-193
A. Cowley, A. Ivankovic, C.S. Wong, N.S. Bennett, A.N. Danilewsky, M. Gonzalez, V. Cherman, B. Vandevelde, I. De Wolf, P.J. McNally
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 59, 2016, págs. 108-116
Design of metal interconnects for stretchable electronic circuits.
M. Gonzalez, F. Axisa, M.V. Bulcke, D. Brosteaux, B. Vandevelde, J. Vanfleteren
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 6, 2008, págs. 825-832
Thermal cycling reliability of SnAgCu and SnPb solder joints: A comparison for several IC-packages.
B. Vandevelde, M. Gonzalez, P. Limaye, P. Ratchev, E. Beyne
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 2-3, 2007, págs. 259-265
M. Gonzalez, Juan José López de la Cruz
37º23N 5º59W: Sevilla contemporánea, Arquitectura 2000-2010, 2011, ISBN 9788493917500, pág. 97
Diseño macroergonomico de un sistema de mobiliario. Aplicación a un salón de estilismo
S. Moreno, F. Aguayo, Javier R. Lama, M. Gonzalez, V. Soltero
Comunicaciones presentadas al XIII Congreso Internacional de Ingeniería de Proyectos: celebrado en Badajoz el 8, 9 y 10 de julio 2009, 2009, ISBN 978-84-613-3497-1
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados