Periodo de publicación recogido
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Numerical prediction of failure paths at a roughened metal/polymer interface.
S.P.M. Noijen, O. van der Sluis, P.H.M. Timmermans, G.Q. Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1315-1318
Numerical analysis of delamination and cracking phenomena in multi-layered flexible electronics.
O. van der Sluis, R.A.B. Engelen, P.H.M. Timmermans, G.Q. Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 8, 2009, págs. 853-860
The need for multi-scale approaches in Cu/low-k reliability issues.
C.A. Yuan, O. van der Sluis, W.D. van Driel, G.Q. Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 6, 2008, págs. 833-842
Characterization of semiconductor interfaces using a modified mixed mode bending apparatus.
J. Thijsse, O. van der Sluis, J.A.W. van Dommelen, W.D. van Driel, M.G.D. Geers
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 3, 2008, págs. 389-394
O. van der Sluis, R.A.B. Engelen, R.B.R. Van Silfhout, W.D. van Driel, M.A.J. van Gils
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 12, 2007, págs. 1975-1982
Molecular simulation on the material/interfacial strength of the low-dielectric materials.
C.A. Yuan, O. van der Sluis, G.Q. Zhang (Kouchi), L.J. Ernst, W.D. van Driel, R.B.R. Van Silfhout
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1483-1491
Characterization of moisture properties of polymers for IC packaging.
X. Ma, K.M.B. Jansen, L.J. Ernst, W.D. van Driel, O. van der Sluis, G.Q. Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1685-1689
Cohesive zone modeling for structural integrity analysis of IC interconnects.
B.A.E. Van Hal, R.H.J. Peerlings, M.G.D. Geers, O. van der Sluis
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 8, 2007, págs. 1251-1261
Analysis of Cu/low-k bond pad delamination by using a novel failure index.
M.A.J. van Gils, O. van der Sluis, G.Q. Zhang, J.H.J. Janssen, R.M.J. Voncken
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 2-3, 2007, págs. 179-186
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