Transient voltage overshoot in TLP testing ¿ Real or artifact?.

• Autores: D. Trémouilles, S. Thijs, Ph. Roussel, M.I. Natarajan, V. Vassilev, G. Groeseneken
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 7, 2007, págs. 1016-1024
• Idioma: inglés
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