Periodo de publicación recogido
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A plug-and-play wideband RF circuit ESD protection methodology: T-diodes.
D. Linten, S. Thijs, J. Borremans, M. Dehan, D. Trémouilles, M. Scholz, M.I. Natarajan, P. Wambacq, S. Decoutere, G. Groeseneken
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1440-1446
A CMOS circuit for evaluating the NBTI over a wide frequency range.
R. Fernández-García, B. Kaczer, G. Groeseneken
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 8, 2009, págs. 885-891
Transient voltage overshoot in TLP testing ¿ Real or artifact?.
D. Trémouilles, S. Thijs, Ph. Roussel, M.I. Natarajan, V. Vassilev, G. Groeseneken
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 7, 2007, págs. 1016-1024
M. Houssa, M. Aoulaiche, S. De Gendt, G. Groeseneken, M.M. Heyns
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 6, 2007, págs. 880-889
NBTI reliability of Ni FUSI/HfSiON gates: Effect of silicide phase.
A. Shickova, B. Kaczer, A. Veloso, M. Aoulaiche, M. Houssa, H. Maes, G. Groeseneken, J.A. Kittl
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 505-507
Reliability screening of high-k dielectrics based on voltage ramp stress.
A. Kerber, L. Pantisano, A. Veloso, G. Groeseneken, M. Kerber
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 513-517
B. Kaczer, R. Degraeve, Ph. Roussel, G. Groeseneken
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 559-566
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