Reliability screening of high-k dielectrics based on voltage ramp stress.

• Autores: A. Kerber, L. Pantisano, A. Veloso, G. Groeseneken, M. Kerber
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 513-517
• Idioma: inglés
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