Identificadores de autorPeriodo de publicación recogido
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Reliability of 3D memories using Orthogonal Latin Square codes
Alfonso Sánchez-Macián, F. Garcia-Herrero, Juan Antonio Maestro
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 95, 2019, págs. 74-80
Seu and Sefi error detection and correction on a ddr3 memory system
Ana Cóbreces, Alberto Regadío Carretero, Jesús Tabero Godino, Pedro Reviriego Vasallo, Alfonso Sánchez-Macián, Juan Antonio Maestro
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-1, 2018, págs. 23-30
Modular fault tolerant processor architecture on a SoC for space
Jesús Tabero Godino, Alberto Regadío Carretero, César Pérez, Jesús Pazos, Pedro Reviriego Vasallo, Alfonso Sánchez-Macián, Juan Antonio Maestro
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 84-90
Shanshan Liu, Pedro Reviriego Vasallo, Alfonso Sánchez-Macián, Juan Antonio Maestro, Liyi Xiao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 126-129
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