Periodo de publicación recogido
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Fault tolerant encoders for Single Error Correction and Double Adjacent Error Correction codes
Shanshan Liu, Pedro Reviriego Vasallo, Juan Antonio Maestro, Liyi Xiao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 167-173
A method to recover critical bits under a double error in SEC-DED protected memories
Shanshan Liu, Pedro Reviriego Vasallo, Liyi Xiao, Juan Antonio Maestro
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 73, 2017, págs. 92-96
Shanshan Liu, Pedro Reviriego Vasallo, Alfonso Sánchez-Macián, Juan Antonio Maestro, Liyi Xiao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 126-129
Extend orthogonal Latin square codes for 32-bit data protection in memory applications
Shanshan Liu, Liyi Xiao, Zhigang Mao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 278-283
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