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Portal Institucional (Dialnet CRIS)Identificadores de autorPeriodo de publicación recogido
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Seu and Sefi error detection and correction on a ddr3 memory system
Ana Cóbreces, Alberto Regadío Carretero, Jesús Tabero Godino, Pedro Reviriego Vasallo, Alfonso Sánchez-Macián, Juan Antonio Maestro
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-1, 2018, págs. 23-30
Modular fault tolerant processor architecture on a SoC for space
Jesús Tabero Godino, Alberto Regadío Carretero, César Pérez, Jesús Pazos, Pedro Reviriego Vasallo, Alfonso Sánchez-Macián, Juan Antonio Maestro
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 84-90
DMR +: An efficient alternative to TMR to protect registers in Xilinx FPGAs
P. Reviriego, Mustafa Demirci, J. Tabero, Alberto Regadío Carretero, J. Antonio Maestro
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 314-318
Alberto Regadío Carretero, Sebastián Sánchez Prieto (dir. tes.), Sebastián Tabero Godino (dir. tes.)
Universidad de Alcalá, Editorial Universidad de Alcalá, 2015. ISBN 978-84-16133-80-2
Procesamiento digital de señal aplicado a la detección de partículas energéticas
Alberto Regadío Carretero
Tesis doctoral dirigida por Sebastián Sánchez Prieto (dir. tes.), Jesús Tabero Godino (codir. tes.). Universidad de Alcalá (2014).
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