Periodo de publicación recogido
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Atmospheric neutron single event effect test on Xilinx 28 nm system on chip at CSNS-BL09
Weitao Yang, Yonghong Li, Yang Li, Zhiliang Hu, Fei Xie, Chaohui He, Songlin Wang, Bin Zhou, Huan He, Waseem A. Khan, Tianjiao Liang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 99, 2019, págs. 119-124
Simulation of substrate contact effects on heavy ion-induced current transient in SiGe HBT
Jia-nan Wei, Chaohui He, Pei Li, Yong-hong Li, Hong-Xia Guo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 95, 2019, págs. 28-35
Jia-nan Wei, Hong-Xia Guo, Feng-qi Zhang, Chaohui He, An-an Ju, Yong-hong Li
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 92, 2019, págs. 149-154
Single-event multiple transients in guard-ring hardened inverter chains of different layout designs
Wen Zhao, Chaohui He, Wei Chen, Rongmei Chen, Peitian Cong, Fengqi Zhang, Zujun Wang, Chen Shen, Lisang Zheng, Xiaoqiang Guo, Lili Ding
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 151-157
Jin-xin Zhang, Qi Guo, Hong-Xia Guo, Wu Lu, Chaohui He, Xin Wang, Pei Li Lin, Lin Wen
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 84, 2018, págs. 105-111
Single event effects sensitivity of low energy proton in Xilinx Zynq-7010 system-on chip
Xuecheng Du, Shuhuan Liu, Dongyang Luo, Yao Zhang, Xiaozhi Du, Chaohui He, Xiaotang Ren, Weitao Yang, Yuan Yuan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 71, 2017, págs. 65-70
Time dependent modeling of single particle displacement damage in silicon devices
Du Tang, Ignacio Martín, Chaohui He, Hang Zang, Cen Xiong, Yonghong Li, Daxi Guo, Peng Zhang, Jinxin Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 60, 2016, págs. 25-32
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