Yong-hong Li

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• Artículos de revistas

  • Simulation of substrate contact effects on heavy ion-induced current transient in SiGe HBT

    Jia-nan Wei, Chaohui He, Pei Li, Yong-hong Li, Hong-Xia Guo

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 95, 2019, págs. 28-35

    • Resumen
    

  • Single event effects in commercial FRAM and mitigation technique using neutron-induced displacement damage

    Jia-nan Wei, Hong-Xia Guo, Feng-qi Zhang, Chaohui He, An-an Ju, Yong-hong Li

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 92, 2019, págs. 149-154

    • Resumen
    

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