Periodo de publicación recogido
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Characterization of MIS structures and thin film transistors using RF-sputtered HfO2/HIZO layers
I. Hernandez, C.A. Pons-Flores, I. Garduño, J. Tinoco, I. Mejia, M. Estrada
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 9-13
M. Estrada, M. Rivas, I. Garduño, F. Avila-Herrera, A. Cerdeira, M. Pavanello, I. Mejia, M.A. Quevedo-Lopez
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 56, 2016, págs. 29-33
Stability of the J�V characteristics of (BEHP-PPV)-co-(MEH-PPV) based light-emitting diodes.
J.C. Sánchez, M. Estrada
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1503-1507
Improved upper contacts PMMA on P3HT PTFTS using photolithographic processes.
I. Mejia, M. Estrada, M. Avila
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 11-12, 2008, págs. 1795-1799
Conduction mechanisms of silicon oxide/titanium oxide MOS stack structures.
J.C. Tinoco, M. Estrada, Benjamín Iñiguez Nicolau, A. Cerdeira
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 3, 2008, págs. 370-381
Angelina González Viana, G. Salvador, M. Estrada, M. Martínez Martínez, C. Mundet Torrellas, M. D. Coll, C. Cabezas
Activos para la salud en el Mediterráneo: II Simposio Mediterráneo de Promoción de la Salud / Dolors Juvinyà Canal (dir.), 2015, ISBN 9788499843322
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