Stability of the J�V characteristics of (BEHP-PPV)-co-(MEH-PPV) based light-emitting diodes.

• Autores: J.C. Sánchez, M. Estrada
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1503-1507
• Idioma: inglés
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