Periodo de publicación recogido
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Drain current model for short-channel triple gate junctionless nanowire transistors
B.C. Paz, M. Casse, Sylvie Barraud, G. Reimbold, O. Faynot, F. Avila-Herrera, A. Cerdeira, M. Pavanello
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 1-10
On the series resistance in staggered amorphous thin film transistors
A. Cerdeira, Magali Estrada, Lluís F. Marsal Garví, Josep Pallarès Marzal, Benjamín Iñiguez Nicolau
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 325-335
M. Estrada, M. Rivas, I. Garduño, F. Avila-Herrera, A. Cerdeira, M. Pavanello, I. Mejia, M.A. Quevedo-Lopez
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 56, 2016, págs. 29-33
Conduction mechanisms of silicon oxide/titanium oxide MOS stack structures.
J.C. Tinoco, M. Estrada, Benjamín Iñiguez Nicolau, A. Cerdeira
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 3, 2008, págs. 370-381
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