Periodo de publicación recogido
|
|
|
S.T. Jenq, H.-H. Chang, Y.-S. Lai, T.-Y. Tsai
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 3, 2009, págs. 310-317
Structural design optimization for board-level drop reliability of wafer-level chip-scale packages.
T.-Y. Tsai, Y.-S. Lai, C.-L. Yeh, R.-S. Chen
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 5, 2008, págs. 757-762
T.-Y. Tsai, C.-L. Yeh, Y.-S. Lai, R.-S. Chen
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 8, 2007, págs. 1239-1245
The growth and characterization of well aligned RuO~2 nanorods on sapphire substrates
C. C. Chen, R. S. Chen, Y. S. Huang, T.-Y. Tsai
Journal of physics: Condensed matter, ISSN 0953-8984, Nº. 47, 2004, págs. 8475-8484
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados