Response spectra analysis for undamped structural systems subjected to half-sine impact acceleration pulses.

• Autores: T.-Y. Tsai, C.-L. Yeh, Y.-S. Lai, R.-S. Chen
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 8, 2007, págs. 1239-1245
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)