Periodo de publicación recogido
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Review of bias-temperature instabilities at the III-N/dielectric interface
C. Ostermaier, P. Lagger, M. Reiner, D. Pogany
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 62-83
TIM, EMMI and 3D TCAD analysis of discrete-technology SCRs
C. Fleury, G. Notermans, H.-M. Ritter, D. Pogany
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 698-702
Normally-off GaN-HEMTs with p-type gate: Off-state degradation, forward gate stress and ESD failure
M. Meneghini, O. Hilt, C. Fleury, R. Silvestri, M. Capriotti, G. Strasser, D. Pogany, E. Bahat-Treidel, F. Brunner, A. Knauer, J. Würfl, I. Rossetto, E. Zanoni, G. Meneghesso, S. Dalcanale
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 177-184
M. Heer, K. Domanski, K. Esmark, U. Glaser, D. Pogany, E. Gornik, W. Stadler
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1455-1464
G. Haberfehlner, S. Bychikhin, V. Dubec, M. Heer, A. Podgaynaya, M. Pfost, M. Stecher, E. Gornik, D. Pogany
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1346-1351
M. Heer, P. Grombach, A. Heid, D. Pogany
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1525-1528
M. Heer, S. Bychikhin, W. Mamanee, D. Pogany, A. Heid, P. Grombach, M. Klaussner, W. Soppa, B. Ramler
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1450-1455
Backside interferometric methods for localization of ESD-induced leakage current and metal shorts.
V. Dubec, S. Bychikhin, D. Pogany, E. Gornik, T. Brodbeck, W. Stadler
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1539-1544
Thermal analysis of InGaN/GaN (GaN substrate) laser diodes using transient interferometric mapping.
S. Bychikhin, T. Swietlik, T. Suski, S. Porowski, P. Perlin, D. Pogany
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1649-1652
Optimization and performance of Al2O3/GaN metal¿oxide¿semiconductor structures.
K. Cico, J. Kuzmik, D. Gregusová, R Stoklas, T. Lalinský, A. Georgakilas, D. Pogany, K. Fröhlich
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 790-793
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