Experimental and numerical analysis of current flow homogeneity in low voltage SOI multi-finger gg-NMOS and NPN ESD protection devices.

• Autores: M. Heer, S. Bychikhin, W. Mamanee, D. Pogany, A. Heid, P. Grombach, M. Klaussner, W. Soppa, B. Ramler
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1450-1455
• Idioma: inglés
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