Thermal imaging of smart power DMOS transistors in the thermally unstable regime using a compact transient interferometric mapping system.

• Autores: G. Haberfehlner, S. Bychikhin, V. Dubec, M. Heer, A. Podgaynaya, M. Pfost, M. Stecher, E. Gornik, D. Pogany
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1346-1351
• Idioma: inglés
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