Periodo de publicación recogido
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Modelling of initial fast charge loss mechanism for logic embedded non-volatile memories
J. Wu, C. Li, H. Wang, J. Li, L. Zheng
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 174-177
The total ionizing dose response of a DSOI 4Kb SRAM
B. Li, J. Wu, J. Gao, Y. Kuang, J. Li, X. Zhao, K. Zhao, Z. Han, J. Luo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 714-718
The feature-based posterior crown design in a dental CAD/CAM system.
Y.-L. Song, J. Li, L. Yin, T. Huang, P. Gao
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 31, Nº. 11-12, 2007, págs. 1058-1065
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