Periodo de publicación recogido
|
|
|
Solving 28 nm I/O circuit reliability issue due to IC design weakness
Yi Chao Low, P. K. Tan, S.-L. Tan, Y.Z. Zhao, J. Lam
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 246-249
P. K. Tan, Y.Z. Zhao, Francis Rivai, B.H. Liu, Y.-L. Pan, R. He, J.B.H. Tan, Z.H. Mai
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 309-314
Failure analysis on 14 nm FinFET devices with ESD CDM failure
C. Shaalini, P. K. Tan, Y.Z. Zhao, B.H. Liu, Y.Z. Ma, A. Quah, Y.-L. Pan, J.B.H. Tan, Z.H. Mai
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 321-333
Multispeed rewritable optical-recording method with an initialization-free phase-change disk
L. P. Shi, X. S. Miao, P. K. Tan
Applied optics: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0003-6935, Nº. 5, 2004, págs. 1140-1146
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados