Periodo de publicación recogido
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P. K. Tan, Y.Z. Zhao, Francis Rivai, B.H. Liu, Y.-L. Pan, R. He, J.B.H. Tan, Z.H. Mai
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 309-314
Failure analysis on 14 nm FinFET devices with ESD CDM failure
C. Shaalini, P. K. Tan, Y.Z. Zhao, B.H. Liu, Y.Z. Ma, A. Quah, Y.-L. Pan, J.B.H. Tan, Z.H. Mai
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 321-333
Formation of Ohmic contacts in AlGaN/GaN HEMT structures at 500 °C by Ohmic contact recess etching.
W.S. Lau, J.B.H. Tan, B.P. Singh
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 5, 2009, págs. 558-561
Effect of a trace of water vapor on Ohmic contact formation for AlGaN/GaN epitaxial wafers.
W.S. Lau, W.T. Wong, J.B.H. Tan, B.P. Singh
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 5, 2008, págs. 794-797
W.S. Lau, S. Gunawan, J.B.H. Tan, B.P. Singh
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 2, 2008, págs. 187-192
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