Periodo de publicación recogido
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Solving 28 nm I/O circuit reliability issue due to IC design weakness
Yi Chao Low, P. K. Tan, S.-L. Tan, Y.Z. Zhao, J. Lam
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 246-249
Velocity-optimized diffusion for ultra-fast polymer-based resistive gas sensors
J. A. Covington, S.-L. Tan
IEE Proceedings: Science, measurement and technology, ISSN 1350-2344, Vol. 153, Nº 3, 2006, págs. 94-100
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