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Academic network for microelectronic test education
F. Novak, A. Biasizzo, Y. Bertrand, M.-L. Flottes, Luz Balado, J. Figueras, S. Di Carlo, P. Prinetto, N. Pricopi, H-J. Wunderlich, J-P. van der Hayden
The International journal of engineering education, ISSN-e 0949-149X, Vol. 23, no. 6, 2007, págs. 1245-1253
Corriente quiescente de circuitos VLSI: Simulación del entorno analógico del defecto
Luz Balado, Joan Figueras Pamies, Antonio Rubio, V. Champac, Rosa Rodríguez Montañes, S. Segura
VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados: 3, 4 y 5 de noviembre de 1992, Toledo, España : actas, 1992, págs. 245-250
Mixed-signal alternate test and binning using digitally encoded signatures
Tesis doctoral dirigida por Joan Figueras Pamies (dir. tes.), Luz Balado (codir. tes.). Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) (2017).
Tesis doctoral dirigida por Rafael Pindado Rico (dir. tes.), Luz Balado (dir. tes.), Inmaculada Martínez Teixidor (dir. tes.). Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) (2012).
On-chip monitor for mixed-signal testing based on x-y zoning
Tesis doctoral dirigida por Luz Balado (dir. tes.). Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) (2006).
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