Y. Bertrand

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • Academic network for microelectronic test education

    F. Novak, A. Biasizzo, Y. Bertrand, M.-L. Flottes, Luz Balado, J. Figueras, S. Di Carlo, P. Prinetto, N. Pricopi, H-J. Wunderlich, J-P. van der Hayden

    The International journal of engineering education, ISSN-e 0949-149X, Vol. 23, no. 6, 2007, págs. 1245-1253

    • Resumen
    

  • Efficiency of Optimized Dynamic Test Flows for ADCs: Sensitivity to Specifications

    S. Bernard, F. Azaïs, Y. Bertrand

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 3, 2005, págs. 291-298

    

  • Correlation Between Static and Dynamic Parameters of A-to-D Converters In the View of a Unique Test Procedure

    Y. Bertrand, S. Bernard, F. Azais

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 4, 2004, págs. 375-387

    

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