Periodo de publicación recogido
|
|
|
Performance assessment of the NIRS-based medical system of evaluating therapeutic effect
Ke Zhao, Nanxi Li, Boan Pan, Ting Li
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 188-193
Ting Li, Zebing Li, Ke Zhao, Boan Pan, Zhiyuan Wang, Xiping Yang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 86, 2018, págs. 72-76
Performance evaluation for a novel optoelectronic device for noninvasive monitoring thrombosis
Ke Zhao, Boan Pan, Zebing Li, Fulin Zhong, Pengbo Wang, Ting Li
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 84, 2018, págs. 134-139
Yue Zhao, Guoyi Xu, Yunlong Sun, Boan Pan, Ting Li
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 197-203
A reliable integrative autocorrelator device for particle fluctuation rate monitoring
Boan Pan, Ting Li, Yan Li, Guoyi Xu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 280-284
Reliability analysis of a newly developed detector for monitoring spine health
Ting Li, Yu Su, Lanhui Wu, Boan Pan, Yan Li
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 411-414
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados