Periodo de publicación recogido
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A reliable integrative autocorrelator device for particle fluctuation rate monitoring
Boan Pan, Ting Li, Yan Li, Guoyi Xu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 280-284
Reliability analysis of a newly developed detector for monitoring spine health
Ting Li, Yu Su, Lanhui Wu, Boan Pan, Yan Li
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 411-414
The effect of aging on the Ni¿Mn¿Ga high-temperature shape memory alloys
Liang Chai, Yan Xin, Yan Li, Huibin Xu
Scripta materialia, ISSN 1359-6462, Vol. 54, Nº. 6, 2006, págs. 1139-1143
Yan Li, Huibin Xu, Chengbao Jiang, Yan Xin
Scripta materialia, ISSN 1359-6462, Vol. 51, Nº. 9, 2004, págs. 849-852
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