Periodo de publicación recogido
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Analysis of Electromagnetic Bandgap Based Filters in a Rectangular Waveguide
K. Yasumoto, N. Koike, H. Jia
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 89, Nº 9, 2006, págs. 1324-1329
A Test Structure for Two-Dimensional Analysis of MOSFETs by Hot-Carrier-Induced Photoemission
H. Iwata, T. Ohzone, K. Yamashita, N. Koike, T. Matsuda, H. Takeuchi, A. Muramatsu
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 5, 2005, pág. 811
N. Koike, H. Yonezawa
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 85, Nº 6, 2002, págs. 1356-1366
A Simulation Methodology for Bidirectional Hot-Carrier Degradation in a Static RAM Circuit
N. Koike, M. Takeo, K. Tatsuuma
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 6, 1998, pág. 959
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