A Simulation Methodology for Bidirectional Hot-Carrier Degradation in a Static RAM Circuit

• Autores: N. Koike, M. Takeo, K. Tatsuuma
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 6, 1998, pág. 959
• Idioma: inglés
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