Periodo de publicación recogido
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N. Dornic, A. Ibrahim, Z. Khatir, S.H. Tran, J.P. Ousten, J. Ewanchuk, S. Mollov
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 462-469
Power cycling issues and challenges of SiC-MOSFET power modules in high temperature conditions
A. Ibrahim, J.P. Ousten, R. Lallemand, Z. Khatir
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 204-210
M. Bouarroudj, Z. Khatir, J.P. Ousten, F. Badel, L. Dupont, S. Lefebvre
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1719-1724
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