Correlation studies for component level ball impact shear test and board level drop test.

• Autores: E.H. Wong, R. Rajoo, S.K.W. Seah, C.S. Selvanayagam, W.D. van Driel, J.F.J.M. Caers, X.J. Zhao, N. Owens, L.C. Tan, M. Leoni, P.L. Eu, Y.-S. Lai, C.-L. Yeh
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 7, 2008, págs. 1069-1078
• Idioma: inglés
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