Periodo de publicación recogido
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A new multitime programmable non-volatile memory cell using high voltage NMOS
S. Xu, Huai Wang, J. Wu, L. Zheng, J. Diao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 169-172
Investigations on immunity of interfaces between intelligent media processor and DDR3 SDRAM memory
J. Wu, W. Zhu, B. Li, Y. Li, Huai Wang, M. Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 230-235
An analytical circuit based nonlinear thermal model for capacitor banks
Haoran Wang, Huai Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 524-527
From chip to inverter: Electro-thermal modeling and design for paralleled power devices in high power application
Peng Fan, Shoudao Huang, Huai Wang, Huimin Li, Derong Luo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 271-277
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