Periodo de publicación recogido
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Investigations on immunity of interfaces between intelligent media processor and DDR3 SDRAM memory
J. Wu, W. Zhu, B. Li, Y. Li, Huai Wang, M. Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 230-235
Investigations on the EFT immunity of microcontrollers with different architectures
J. Wu, B. Li, W. Zhu, H. Wang, L. Zheng
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 708-713
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