Periodo de publicación recogido
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Method to estimate profile of threshold voltage degradation in MOSFETs due to electrical stress
Yeohyeok Yun, Ji-Hoon Seo, Donghee Son, Bongkoo Kang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 186-190
Yeohyeok Yun, Gang-Jun Kim, Ji-Hoon Seo, Donghee Son, Bongkoo Kang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 191-195
Giyoun Roh, Hyeokjin Kim, Cheolgyu Kim, Dongwoo Kim, Bongkoo Kang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 72, 2017, págs. 98-102
Degradation of pMOSFETs due to hot electron induced punchthrough
Donghee Son, Gang-Jun Kim, Ji-Hoon Seo, Nam-Hyun Lee, YongHa Kang, Bongkoo Kang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 59, 2016, págs. 13-17
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