Periodo de publicación recogido
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Degradation of pMOSFETs due to hot electron induced punchthrough
Donghee Son, Gang-Jun Kim, Ji-Hoon Seo, Nam-Hyun Lee, YongHa Kang, Bongkoo Kang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 59, 2016, págs. 13-17
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