Periodo de publicación recogido
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Analysis of DC bus bar dominant stray parameters based on equivalent calculation models
Shaomin He, Huan Yang, Guangzhuo Li, Sideng Hu, Xiangning He
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 39, Nº 3, 2020, págs. 35-48
Haoze Luo, Wuhua Li, Xiangning He, Francesco Iannuzzo, Frede Blaabjerg
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 123-130
Modern IGBT gate driving methods for enhancing reliability of high-power converters — An overview
Haoze Luo, Francesco Iannuzzo, Paula Diaz Reigosa, Frede Blaabjerg, Wuhua Li, Xiangning He
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 141-150
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