Periodo de publicación recogido
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On NoC Bandwidth Sharing for the Optimization of Area Cost and Test Application Time
F. Hussin, Tae Yoneda, Hideo Fujiwara
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 7, 2008, págs. 1999-2007
NoC-Compatible Wrapper Design and Optimization under Chennel-Bandwidth Test-Time Constraints
F. Hussin, Tae Yoneda, Hideo Fujiwara
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 7, 2008, págs. 2008-2017
Test Scheduling for Multi-Clock Domain SoCs under Power Constraint
Tae Yoneda, K. Masuda, Hideo Fujiwara
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 3, 2008, págs. 747-755
Analysis of Test Generation Complexity for Stuck-At and Path Delay Faults Based on Tk-Notation
Chia Yee Ooi, Thomas Clouqueur, Hideo Fujiwara
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 90, Nº 8, 2007, págs. 1202-1212
Effect of BIST Pretest on IC Defect Level
Yoshiyuki Nakamura, Jacob Savir, Hideo Fujiwara
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 89, Nº 10, 2006, págs. 2626-2636
A Memory Grouping Method for Reducing Memory BIST logic of System-on-Chips
Masahide Miyazaki, Tomokazu Yoneda, Hideo Fujiwara
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 89, Nº 4, 2006, págs. 1490-1497
Classification of Sequential Circuits Based on Tk Notation and Its Application
Chia Yee Ooi, Thomas Clouqueur, Hideo Fujiwara
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 88, Nº 12, 2005, págs. 2738-2747
Defect Level vs. Yield and Fault Coverage in the Presence of an Unreliable BIST
Yoshiyuki Nakamura, Jacob Savir, Hideo Fujiwara
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 88, Nº 6, 2005, págs. 1210-1216
Preemptive System-on-Chip Test Scheduling
E. Larsson, Hideo Fujiwara
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 3, 2004, págs. 620-629
D. Xiang, S. Gu, Hideo Fujiwara
IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 86, Nº 11, 2003, págs. 2407-2417
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