Effect of BIST Pretest on IC Defect Level

• Autores: Yoshiyuki Nakamura, Jacob Savir, Hideo Fujiwara
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 89, Nº 10, 2006, págs. 2626-2636
• Idioma: inglés
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