Analysis of Test Generation Complexity for Stuck-At and Path Delay Faults Based on Tk-Notation

• Autores: Chia Yee Ooi, Thomas Clouqueur, Hideo Fujiwara
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 90, Nº 8, 2007, págs. 1202-1212
• Idioma: inglés
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