Non-scan Design for Testability for Synchronous Sequential Circuits Based on Fault-Oriented Conflict Analysis

• Autores: D. Xiang, S. Gu, Hideo Fujiwara
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 86, Nº 11, 2003, págs. 2407-2417
• Idioma: inglés
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