Periodo de publicación recogido
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A novel approach to characterization of progressive breakdown in high-k/metal gate stacks.
R. Pagano, S. Lombardo, F. Palumbo, P. Kirsch, S.A. Krishnan, C. Young, R. Choi, G. Bersuker, J.H. Stathis
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 11-12, 2008, págs. 1759-1764
Il piano ontico del sapere pedagogico. Categorie e postura di ricerca
R. Pagano, Adriana Schiedi
La práctica educativa en la Sociedad de la Información: Innovación a través de la investigación / coord. por Rosabel Roig Vila, Cosimo Laneve, 2011, ISBN 978-84-268-1563-7, págs. 323-334
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