Periodo de publicación recogido
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Charalampos Papadopoulos, Chiara Corvasce, Arnost Kopta, Daniel Schneider, Gontran Pâques, Munaf Rahimo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 470-475
Capacitive effects in IGBTs limiting their reliability under short circuit
P.D. Reigosa, Francesco Iannuzzo, Munaf Rahimo, Frede Blaabjerg
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 485-489
Extraction of dynamic avalanche during IGBT turn off
Silvan Geissmann, L. De Michielis, Chiara Corvasce, Munaf Rahimo, M. Andenna
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 495-499
Munaf Rahimo, Frank Richter, Fabian Fischer, Umamaheswara Vemulapati, Arnost Kopta, Chiara Corvasce, Silvan Geissmann, Marco Bellini, Martin Bayer, Friedhelm Bauer
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 51-57
La conmutación se renueva: Avances recientes de las tecnologías de IGCT para la electrónica de alta potencia
Munaf Rahimo
Revista ABB, ISSN 1013-3135, Nº 4, 2016 (Ejemplar dedicado a: Transporte), págs. 67-71
Semiconductores de potencia: Pasado y presente de los semiconductores de potencia en ABB
Munaf Rahimo, Sven Klaka, Christoph Holtmann
Revista ABB, ISSN 1013-3135, Nº 2, 2016, págs. 55-59
Generaciones de semiconductores
Christoph Holtmann, Sven Klaka, Munaf Rahimo, Andreas Moglestue
Revista ABB, ISSN 1013-3135, Nº 3, 2014, págs. 84-90
El chip dos en uno: El transistor bimodal de puerta aislada (BIGT)
Munaf Rahimo, Liutauras Storasta, Chiara Corvasce, Arnost Kopta
Revista ABB, ISSN 1013-3135, Nº 2, 2013, págs. 19-23
La conmutación a un rendimiento superior: la evolución de la tecnología IGBT
Munaf Rahimo, Arnost Kopta
Revista ABB, ISSN 1013-3135, Nº 3, 2008 (Ejemplar dedicado a: Electrónica de potencia), págs. 19-24
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